產(chǎn)品變化通告 : | Internal Chip Change 04/May/2007 |
標(biāo)準(zhǔn)包裝 : | 1 |
系列 : | - |
檢測距離 : | 0.217" (5.5mm) |
檢測方法 : | 反射 |
電壓 - 集電極發(fā)射極擊穿(最大) : | 35V |
電流 - 集電極 (Ic)(最大) : | 20mA |
電流 - DC 正向(If) : | 50mA |
輸出類型 : | 光電晶體管 |
響應(yīng)時(shí)間 : | 20µs |
安裝類型 : | 表面貼裝 |
封裝/外殼 : | 4-SMD |
包裝 : | 剪切帶 (CT) |
工作溫度 : | -25°C ~ 85°C |