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集成電路 (IC) - 專用邏輯 - Texas Instruments - 74ABTH182646APMG4 - IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP
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74ABTH182646APMG4|Texas Instruments
聲明：圖片僅供參考，請以實物為準！
74ABTH182646APMG4
制造商型號： 74ABTH182646APMG4
制造商： Texas Instruments
描述： IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP
技術(shù)參考： Rohs PDF查詢
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詳細參數(shù)
標準包裝 ： 160
系列 ： 74ABTH
邏輯類型 ： 掃描測試設(shè)備，帶收發(fā)器和寄存器
電源電壓 ： 4.5 V ~ 5.5 V
位數(shù) ： 18
工作溫度 ： -40°C ~ 85°C
安裝類型 ： 表面貼裝
封裝/外殼 ： 64-LQFP
供應(yīng)商設(shè)備封裝 ： 64-LQFP (10x10)
包裝 ： 托盤

旗下站點www.szcwdz.com相關(guān)詳細信息: 74ABTH182646APMG4
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